インサーキットテスター|アナログ|株式会社システム工業


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インサーキットテスター - アナログ

Agilent Medalist i1000



民生用電子機器基板検査に最適なインサーキット・テスト・システム


特徴


  • VTEP2.0によるテスト・カバレッジの向上
  • AutoDebug機能も搭載した優れた操作性
  • 既存MDAの治具も活用可能

Agilent Medalist i1000

主な仕様

  • 最大ノード数
    2240(ピン・カード:最大35枚)
    ピン・カード
    Un-mux アナログ64チャンネル/枚
    オープン/ショート・テスト
    ショート・ピン・グループの吸い上げ方式
    アナログ・インサーキット・テスト
    6線式測定
    アナログ・ガーディング・ポイント数
    10
    ベクターレス・テスト技術
    VTEP v2.0
    ・BGA程度までのIC/コネクタ/ソケットの足浮き検査
    VTEP
    ・マイクロBGAの足浮き検査
    iVTEP
    ・コネクタの電源/グランド・ピンの足浮き検査
    NPM(ネットワーク・パラメータ測定)
    シリアル・データ・バス・テスト
    I2C. SPIプログラミング機能
    Boundary Scanテスト
    カスタマイズ・オプション
    周波数測定
    Yes
    AC/DC電圧測定
    Yes
    ファースト・バス歩留まり(FPY)レポート
    Yes
    部品レベル・テスト・カバレッジ・レポート
    Yes
    歩留まり改善テスト
    Yes
    テスト・アクセス改善ツール
    Medalist Bead Probe技術
    パネル・テスト
    Yes
    リレー・レベル診断ツール
    Yes
    SPC品質改善ツール
    Yes


速報
ご好評のi1000に、Digital対応版の [i1000D] がリリース!

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