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インサーキットテスター - アナログ
Agilent Medalist i1000
民生用電子機器基板検査に最適なインサーキット・テスト・システム
特徴
- VTEP2.0によるテスト・カバレッジの向上
- AutoDebug機能も搭載した優れた操作性
- 既存MDAの治具も活用可能

主な仕様
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最大ノード数2240(ピン・カード:最大35枚)ピン・カードUn-mux アナログ64チャンネル/枚オープン/ショート・テストショート・ピン・グループの吸い上げ方式アナログ・インサーキット・テスト6線式測定アナログ・ガーディング・ポイント数10ベクターレス・テスト技術VTEP v2.0・BGA程度までのIC/コネクタ/ソケットの足浮き検査VTEP・マイクロBGAの足浮き検査iVTEP・コネクタの電源/グランド・ピンの足浮き検査NPM(ネットワーク・パラメータ測定)シリアル・データ・バス・テストI2C. SPIプログラミング機能Boundary Scanテストカスタマイズ・オプション周波数測定YesAC/DC電圧測定Yesファースト・バス歩留まり(FPY)レポートYes部品レベル・テスト・カバレッジ・レポートYes歩留まり改善テストYesテスト・アクセス改善ツールMedalist Bead Probe技術パネル・テストYesリレー・レベル診断ツールYesSPC品質改善ツールYes
速報 |
ご好評のi1000に、Digital対応版の [i1000D] がリリース!
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