インサーキットテスター｜デジタル｜株式会社システム工業

インサーキット・テスト・システム

特徴

• GUI による容易な操作性
• 高いテスト・スループット
• 自由度の高いシステム・アーキテクチャ
• 既存システムとの互換性
• 自動デバッグ機能 (AutoDebug)
• 自動最適化機能 （AutoOptimizer)
• VTEP v2.0 ベクターレス・テスト技術

主な仕様

• 	UnMuxピン・カード使用時	Muxピン・カード使用時
  最大ノード	5184	5184
  最大チャンネル数	5184	1152
  ドライバ/レシーバ マルチプレクス比	1:1　パーピン	9:2　マルチプレクス
  ロジック・レベル(per channels)	パーピン・プログラミング	パーチャンネル・プログラミング
  ロジック・スレッショルド (per channels)	単一スレッショルド・ プログラミング	デュアル・スレッショルド・プログラミング
  テスト・スピード (ベクターレート：パターン速度)	6MPs	6MPs,12MPs,20MPs
  回路網解析	自動(IPG)
  オペレーティング・システム	Windows XP Professional
  DUT電源の最大数	最大24プログラマブル電源
  周波数測定	60MHz
  アナログ・テスト	Yes
  ベクター・プログラミング	VCL　および　PCF
  ベクターレス・テスト	VTEP v2.0
  高電圧テスト	100V
  低電圧テスト	0.8Vセーフガード
  バック・ドライブ電流	750mA
  部品レベル・テスト・カバレッジ・レポート	Yes
  Boundary Scanテスト	Agilent Boundary Scan, ScanWorks
  Flash ISP(イン・システム・プログラミング)	Yes
  CPLD/FPGA ISP(イン・システム・プログラミング)	Yes
  インテリジェント歩留り改善テスト	Yes
  NANDツリー・プログラム生成	言語ベース
  極性チェック・ソフトウエア	Yes
  SPC品質管理ツール	プッシュボタン Q-Stats
  自動修理ツール	Medalist リペア・ツール
  モジュラー構造(柔軟性/拡張性)	1 to 4モジュール
  デュアルウェル(２つの基板の交互テスト)およびスループット・マルチプライヤ(複数枚基板の同時テスト)対応	Yes
  治具配線タイプ	ショート・ワイヤ,ワイヤレス,ロング・ワイヤ