インサーキットテスター｜テクノロジー｜株式会社システム工業

インサーキット・テストのテスト・カバレージ改善を実現。

特徴

• TESTJETの進化系～ベクターレス・テストの最新技術
• BGA、マイクロBGA に対応
• コネクタの電源、グランド・ピンにも対応

Cover-Extend

• 既存のバウンダリースキャン機能とVTEP技術を組み合わせた、Cover-Extend技術という既存技術の融合により、バウンダリースキャン対応デバイス同士でなくてもプローブ制限なく、トレース不良検出を可能としました。

• VTEP v2.0 Powered, with Cover-Extend Technology

Agilent Medalist Bead Probe Technology

• インサーキット・テストの新しいプロービング手法

• ICT検査におけるアクセス方法

• ～問題点はどこにある？

• テストパッド生成のスペースが無い
• 高周波に対応したテストパッドの設置

• これらを解決します。

• 

ネットワーク・パラーメータ測定(NPM)

• 目的

• 高速伝送信号コネクタ等の電源ピン、グランド・ピンの足浮きを検出します。

• 特徴

• 今までの検査技術では、電源ピン、グランド・ピンは容量が大きく　静電容量のみの測定では、検査が不可能でしたが、NPMでは検査が可能になりました。